基本信息
标准名称: | 贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定 |
英文名称: | Determination of micro silicon in depleted uranium tetrafluoride by spectrophotometric method |
中标分类: | 能源、核技术 >> 核材料、核燃料 >> 核材料、核燃料及其分析试验方法 |
ICS分类: | 能源和热传导工程 >> 核能工程 >> 裂变物质 |
发布日期: | 2005-04-11 |
实施日期: | 2005-07-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
出版日期: | |
页数: | 5页 |
适用范围
本标准规定了分光光度法测定贫化四氟化铀中微量硅的方法原理、试剂、仪器、分析步骤、结果计算和方法的精密度。本标准适用于贫化四氟化铀中微量硅的测定,其它丰度的四氟化铀中微量硅的测定可参照使用。当取样量为0.25g四氟化铀时,硅的测定范围为:(10~120)μg/g。在测量范围内,40μg磷、3μg砷不干扰硅的测定。
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所属分类: 能源 核技术 核材料 核燃料 核材料 核燃料及其分析试验方法 能源和热传导工程 核能工程 裂变物质